Tinjauan Tinjauan Overall Equipment Effectiveness (OEE) Pada Produksi Kertas Terhadap Standar JIPM

Authors

  • Sepfitrah
  • Siswo Pranoto
  • Yose Rizal Teknik Mesin, Universitas Pasir Pengaraian
  • Rinaldi

Keywords:

OEE PaperMachine Maintenance and TPM Maintenance

Abstract

Penelitian ini bertujuan untuk meningkatkan efektivitas produksi memanfaatkan hasil perhitungan nilai OEE (Overall Equipment Effectiveness). OEE adalah salah satu cara untuk mencari dan  memonitor efektivitas proses kerja dari suatu perusahaan.Setiap perusahaan menginginkan tingkat efektif yang tinggi dalam proses produksi yang dilakukannya. Salah satu upaya yang dilakukan guna menganalisa efektivitas proses produksi dalam hal ini adalah proses pada Paper Machine#3 di PT. XYZ. Dengan sistem TPM (Total Productive Maintenance), yaitu melibatkan operator sebagai pemeran utama untuk melakukan perawatan mesin, penelitian ini dimulai dengan mengidentifikasi kerugian peralatan (Equipment Losses) dan mengukur pencapaian nilai OEE satu lini produksi. Dari periode penelitian yang dilakukan pada Paper Machine#3 (Desember 2016 – July 2018) didapatkan nilai Availability 81,6%, nilai Performance 87,8%, Rate of Quality 92,65% dan nilai OEE 66,85%. Nilai ini masih dibawah nilai OEE standar yaitu  84%. Rata-rata losses terbesar pada Paper Machine#3 terdapat pada Equipment Failure yaitu 44,6%, Set-up & Adjust yaitu 19.05%, Reduce Speed Loss yaitu 12,5%  dan Rewinder Broke Loss yaitu 10,6%. Untuk meningkatkan nilai OEE ke nilai standar perlu diambil tindakan seperti membina kerjasama antar lini produksi dan manajemen agar terbentuk tim kerja yang solid. Perlunya dilakukan pelatihan guna meningkatkan kemampuan tim  maintenance dalam bertindak cepat dan tepat

Downloads

Download data is not yet available.

Downloads

Published

2022-07-22

How to Cite

Sepfitrah, Pranoto, S. ., Rizal, Y., & Rinaldi. (2022). Tinjauan Tinjauan Overall Equipment Effectiveness (OEE) Pada Produksi Kertas Terhadap Standar JIPM. Aptek, 14(2), 75–82. Retrieved from https://journal.upp.ac.id/index.php/aptek/article/view/1112